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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109253061A
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201811229259.8
申请日：2018-10-22
Applicant: 东北大学
Abstract: 本发明属于机械动力学技术领域，尤其涉及一种单摆及单摆摆动快速衰减方法。单摆摆动快速衰减方包括以下步骤，建立单摆模型；根据拉格朗日理论，建立带有移动滑块的单摆的动力学方程；根据滑块移动时所受科里奥利力的方向与大小，获得能使单摆摆动衰减的滑块运动路径；根据滑块在一定范围内运动的过程中的功能转换关系，获得滑块运动的加减速运动时间或路程所占总运动时间或路程的比例；通过定量分析滑块运动所产生的等效阻尼比，获得滑块的运动范围与运动时间。本发明通过对滑块运动的实际过程进行分析，设计实际情况下对单摆摆动抑制效果最好的滑块运动，所提出的方法有助于应用在单摆类结构的防摆主动控制方面，进而提高了单摆的衰减效率。
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公开(公告)号：CN109253061B
公开(公告)日：2020-02-04
申请号：CN201811229259.8
申请日：2018-10-22
Applicant: 东北大学
Abstract: 本发明属于机械动力学技术领域，尤其涉及一种单摆摆动快速衰减方法。单摆摆动快速衰减方包括以下步骤，建立单摆模型；根据拉格朗日理论，建立带有移动滑块的单摆的动力学方程；根据滑块移动时所受科里奥利力的方向与大小，获得能使单摆摆动衰减的滑块运动路径；根据滑块在一定范围内运动的过程中的功能转换关系，获得滑块运动的加减速运动时间或路程所占总运动时间或路程的比例；通过定量分析滑块运动所产生的等效阻尼比，获得滑块的运动范围与运动时间。本发明通过对滑块运动的实际过程进行分析，设计实际情况下对单摆摆动抑制效果最好的滑块运动，所提出的方法有助于应用在单摆类结构的防摆主动控制方面，进而提高了单摆的衰减效率。
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公开(公告)号：CN108918064A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810658062.X
申请日：2018-06-19
Applicant: 东北大学
IPC: G01M7/02
Abstract: 本发明提供了一种榫连叶片固有特性非接触式测试实验装置及测试方法，属于轴流叶片振动特性测试技术领域。该装置包括包括支撑系统、伺服顶杆机构、叶片榫槽夹具、非接触式激振装置和非接触式测振装置。台面下方的伺服顶杆装置施加推力模拟叶片旋转时榫连结构承受的离心力。该发明具有统一的叶片榫槽夹具底座，在所述叶片榫槽夹具底座上方方便快捷地安装不同形式的榫槽夹具。非接触式激振装置的激振器为电磁激振方式，其夹具为磁吸底座支撑的双杆支架，能够改变激振的位置和方向。非接触式测振传感器为激光测振仪。激振与测振采用非接触方式，有效避免了附加质量对叶片固有特性测试造成的偏差。该装置适用于各种形式的榫头—榫槽叶片的振动特性测试。
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公开(公告)号：CN108918065B
公开(公告)日：2019-08-23
申请号：CN201810658206.1
申请日：2018-06-19
Applicant: 东北大学
IPC: G01M7/02
Abstract: 本发明属于航空发动机实验模拟装置及结构件测试实验技术领域，公开了一种鼓筒‑轮盘螺栓连接结构的实验装置及测试方法。装置包括永磁交流同步电机、弹性联轴器、主轴、轴承座A、配重盘、轴承座B、轮盘‑鼓筒装配件、带45度反光斜面的可拆卸式轴头、非接触式电磁激振装置、激光测振仪和工作台；该装置适用于螺栓连接的旋转态鼓筒，特别是飞机发动机，燃气轮机等旋转机械中轮盘‑鼓筒的振动特性研究。该装置通过带45度反光斜面的可拆卸式轴头满足对高速旋转鼓筒的非接触式模态特性研究，更换不同规格的轴头，用于非接触式测试鼓筒不同轴向及周向位置；非接触式激振及拾振的方式避免了传统接触式测试引起的附加质量问题，具有更高的测试精度。
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公开(公告)号：CN108918065A
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201810658206.1
申请日：2018-06-19
Applicant: 东北大学
IPC: G01M7/02
Abstract: 本发明属于航空发动机实验模拟装置及结构件测试实验技术领域，公开了一种鼓筒-轮盘螺栓连接结构的实验装置及测试方法。装置包括永磁交流同步电机、弹性联轴器、主轴、轴承座A、配重盘、轴承座B、轮盘-鼓筒装配件、带45度反光斜面的可拆卸式轴头、非接触式电磁激振装置、激光测振仪和工作台；该装置适用于螺栓连接的旋转态鼓筒，特别是飞机发动机，燃气轮机等旋转机械中轮盘-鼓筒的振动特性研究。该装置通过带45度反光斜面的可拆卸式轴头满足对高速旋转鼓筒的非接触式模态特性研究，更换不同规格的轴头，用于非接触式测试鼓筒不同轴向及周向位置；非接触式激振及拾振的方式避免了传统接触式测试引起的附加质量问题，具有更高的测试精度。
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