公开(公告)号：CN1389790A

公开(公告)日：2003-01-08

申请号：CN01144049.X

申请日：2001-12-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金范洙 ,  李贵荣 ,  金钟敏 ,  印至晛 ,  金济成 ,  卢三赫 ,  闵相烈 ,  李东熙 ,  郑宰溶 ,  曹裕根 ,  崔钟武

IPC: G06F12/02 ,  G06F12/06 ,  G06F12/08 ,  G06F11/22 ,  G11C7/00

CPC classification number: G06F12/0246 ,  G06F3/0679 ,  G06F13/4239 ,  G06F2212/2022 ,  G06F2212/7203

Abstract: 提供一种闪速存储器管理方法。根据该方法,当请求将预定数据写到已被写入数据的页面中时,将该预定数据写到与包含该页面的数据块相对应的的日志块中。当再次接收到将预定数据写到该页面的请求时,将预定数据写到日志块中的空的自由页面中。即使请求连续地写同一个页面,该管理方法也能够在一个日志块中处理这种情况,由此提高了闪速存储器资源的使用效率。

公开(公告)号：CN113567774A

公开(公告)日：2021-10-29

申请号：CN202110450857.3

申请日：2021-04-25

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李受营 ,  金钟敏 ,  朴日锡 ,  申光一 ,  全忠森

IPC: G01R31/00

Abstract: 公开了用于检查半导体器件的检查装置和方法。检查装置包括：载物台，其上布置有半导体器件；第一光源，其将高频光照射到半导体器件的检查区域上，以减小半导体器件中的PN结的势垒；束扫描器，被布置在半导体器件上方，并且将带电粒子束照射到半导体器件的检查区域上以产生二次电子；以及，缺陷检测器，其产生与检查区域相对应的检测图像，并且基于参考图像和多个检测图像之间的电压对比，从多个检测图像中检测缺陷图像，缺陷图像指示半导体器件的缺陷。

公开(公告)号：CN106797131A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201580054428.7

申请日：2015-10-06

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金钟敏

IPC: H02J7/00

Abstract: 提供了一种电子设备。所述电子设备包括：连接端子，充电电缆或者放电电缆能够连接到连接端子；充电/放电单元，被配置为执行充电操作或者放电操作；以及控制器，被配置为基于连接到连接端子的充电电缆或者放电电缆执行充电操作或者放电操作。

公开(公告)号：CN1322428C

公开(公告)日：2007-06-20

申请号：CN01144049.X

申请日：2001-12-28

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 金范洙 ,  李贵荣 ,  金钟敏 ,  印至 ,  金济成 ,  卢三赫 ,  闵相烈 ,  李东熙 ,  郑宰溶 ,  曹裕根 ,  崔钟武

IPC: G06F12/02 ,  G06F12/06 ,  G06F12/08 ,  G06F11/22 ,  G11C7/00

CPC classification number: G06F12/0246 ,  G06F3/0679 ,  G06F13/4239 ,  G06F2212/2022 ,  G06F2212/7203

Abstract: 提供一种闪速存储器管理方法。根据该方法，当请求将预定数据写到已被写入数据的页面中时，将该预定数据写到与包含该页面的数据块相对应的日志块中。当再次接收到将预定数据写到该页面的请求时，将预定数据写到日志块中的空的自由页面中。即使请求连续地写同一个页面，该管理方法也能够在一个日志块中处理这种情况，由此提高了闪速存储器资源的使用效率。