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公开(公告)号:CN118038927A
公开(公告)日:2024-05-14
申请号:CN202311480525.5
申请日:2023-11-08
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C11/4074 , G11C11/408
Abstract: 提供了稳压器、存储器装置和存储器装置的操作方法。存储器装置可以包括:参考电压产生器,其产生参考电压;稳压器,其包括基于参考电压产生内部电压的多个驱动块;以及电力线,其接收内部电压。多个驱动块中的至少一个驱动块可以包括第一单元驱动器和第二单元驱动器,第一单元驱动器基于参考电压和内部电压的变化产生流经电力线的第一输出电流,第二单元驱动器基于参考电压和内部电压的变化产生流经电力线的比第一输出电流大的第二输出电流。第一单元驱动器可以比第二单元驱动器的第二输出电流更快地产生第一输出电流。
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公开(公告)号:CN116110466A
公开(公告)日:2023-05-12
申请号:CN202211243666.0
申请日:2022-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 根据本公开,一种非易失性存储器件可以包括:运算放大器,将参考电压与反馈节点的电压进行比较;第一反馈网络电路,通过响应于运算放大器的输出电压对输入电压进行分压来生成第一输出电压,并且响应于第一反馈信号将与第一输出电压相对应的电压发送到反馈节点;第二反馈网络电路,通过响应于运算放大器的输出电压对输入电压进行分压来生成第二输出电压,并且响应于第二反馈信号将与第二输出电压相对应的电压发送到反馈节点;以及第三反馈网络电路,通过响应于运算放大器的输出电压对输入电压进行分压来生成第三输出电压,并且响应于第三反馈信号将与第三输出电压相对应的电压发送到反馈节点。
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公开(公告)号:CN118298891A
公开(公告)日:2024-07-05
申请号:CN202410008139.4
申请日:2024-01-03
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11C29/12
Abstract: 提供字线缺陷检测电路、字线缺陷检测方法和存储器装置。所述字线缺陷检测电路被配置为检测从存储器装置的多条字线之中选择的至少一条字线的缺陷,所述字线缺陷检测电路包括:电流生成电路,被配置为生成具有第一大小的检测参考电流并将检测参考电流施加到被选字线;以及感测放大器,被配置为测量基于检测参考电流而生成的被选字线的电压。所述字线缺陷检测电路可被配置为响应于被选字线的所述电压具有小于第一参考电压的值而检测到被选字线的缺陷。
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公开(公告)号:CN117949109A
公开(公告)日:2024-04-30
申请号:CN202311377610.9
申请日:2023-10-23
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种数字温度传感器和测量温度的方法。数字温度传感器包括电流生成电路、振荡电路、转换电路和计算电路。电流生成电路生成与绝对温度成正比(PTAT)电流和与绝对温度互补(CTAT)电流。振荡电路基于PTAT电流生成具有第一循环周期的第一时钟信号,并且基于CTAT电流生成具有第二循环周期的第二时钟信号。转化电路基于第一时钟信号生成第一温度代码使得第一温度代码随着操作温度的增加而减小,并且基于第二时钟信号生成第二温度代码使得第二温度代码随着操作温度的增加而增加。计算电路计算第一温度代码与第二温度代码之间的差值,并且基于差值生成校正温度代码。
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