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公开(公告)号:CN112789740A
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN201980063857.9
申请日:2019-09-06
IPC: H01L51/00 , C07D209/82 , C07D403/12 , C07D405/12 , C07D409/12 , C07D498/04 , C07D513/04
Abstract: 本发明涉及一种用于有机光电子元件的组合物、有机光电子元件和显示装置,该组合物包含:由化学式1和化学式2的组合表示的用于有机光电子元件的第一化合物、和由化学式3和化学式4的组合表示的用于有机光电子元件的第二化合物。在化学式1至化学式4中,每个取代基如说明书中所定义。
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公开(公告)号:CN118475743A
公开(公告)日:2024-08-09
申请号:CN202280086728.3
申请日:2022-12-28
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 根据本公开的一个方面的具有烘干功能的洗衣机包括:机柜;桶,所述桶设置在所述机柜中并且存储水;烘干装置,烘干装置设置在所述桶的上侧,并且将热空气供应到所述桶中;冷凝管道,冷凝管道用于连接烘干装置和穿过所述桶设置的空气排放端口,以将被从所述桶排放的空气引导到烘干装置;水供给管,水供给管连接到冷凝管道的上部,并且被形成为将水供应到冷凝管道中;中间分散突出部,中间分散突出部设置在冷凝管道的一侧的内表面的中间,并且被形成为分散沿着所述一个侧表面流动的水;和下分散突出部,下分散突出部安装在中间分散突出部下方,并且被形成为分散经过中间分散突出部且然后向下流动的水。
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公开(公告)号:CN115718935A
公开(公告)日:2023-02-28
申请号:CN202210986962.3
申请日:2022-08-17
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: G06F30/10 , G06F30/27 , G06N3/0475 , G06N3/094
Abstract: 公开了一种用于制造半导体设备的电子设备的操作方法。该方法包括在电子设备处接收用于半导体设备的光刻工艺的计算机辅助设计(CAD)图像,并且通过使用基于机器学习的模块在电子设备处从CAD图像生成第一扫描电子显微镜(SEM)图像和第一片段(SEG)图像,并且第一SEG图像包括关于缺陷位置的信息。
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公开(公告)号:CN112789740B
公开(公告)日:2025-04-25
申请号:CN201980063857.9
申请日:2019-09-06
IPC: H10K99/00 , C07D209/82 , C07D403/12 , C07D405/12 , C07D409/12 , C07D498/04 , C07D513/04
Abstract: 本发明涉及一种用于有机光电子元件的组合物、有机光电子元件和显示装置,该组合物包含:由化学式1和化学式2的组合表示的用于有机光电子元件的第一化合物、和由化学式3和化学式4的组合表示的用于有机光电子元件的第二化合物。在化学式1至化学式4中,每个取代基如说明书中所定义。
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公开(公告)号:CN118265823A
公开(公告)日:2024-06-28
申请号:CN202280075818.2
申请日:2022-12-20
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: D06F58/22 , D06F39/10 , B01D46/682 , B01D46/00 , B01D46/72
Abstract: 一种衣物处理设备包括:机柜;设置在机柜的圆筒形的桶,所述桶包括形成在所述桶的圆周表面上的空气排放口和从所述桶的外侧向外突出以引导通过所述空气排放口排放的空气的桶管道;过滤器盒,过滤器被安装到过滤器盒,以过滤行进通过所述空气排放口的空气中所包含的异物,过滤器盒联接到桶管道;以及清洁喷嘴,清洁喷嘴联接到桶管道,具有与所述空气排放口对应的一侧并被设置成相对于桶管道倾斜以面对过滤器,清洁喷嘴包括喷嘴,喷嘴位于所述桶管道内部并延伸通过穿过桶管道的侧表面形成的管道开口以向过滤器喷射水,其中管道开口被设置成四边形形状,使得穿过管道开口的喷嘴完全暴露于过滤器,以允许从喷嘴喷射的水到达过滤器。
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公开(公告)号:CN114388380A
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:CN202111170392.2
申请日:2021-10-08
Applicant: 三星电子株式会社 , 首尔大学校产学协力团
IPC: H01L21/66
Abstract: 公开了一种晶片缺陷推断系统,其包括处理电路,该处理电路被配置为:组合第一图像和第二图像以生成组合图像,第一图像包括在半导体晶片上形成的电路图案的成像,并且第二图像包括用于在半导体晶片上实现电路图案的掩模的布局图像的成像;基于组合图像,通过执行机器学习来推断与在半导体晶片上形成的电路图案相关联的缺陷;并且基于机器学习生成包括关于缺陷的信息的输出图像。
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