公开(公告)号：CN1204058A

公开(公告)日：1999-01-06

申请号：CN97116548.3

申请日：1997-09-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 权赫 ,  金东顼 ,  赵根原 ,  沈贤燮

IPC: G01R31/303

CPC classification number: G01R31/31922

Abstract: 一种可检测高速同步存储器件的检测方法,该检测方法可使通过检测器所产生的脉冲信号变换为具有比最低速率高的频率的时钟信号,检测设备的检测周期基于脉冲信号的周期时间加以确定,IC器件的操作周期基于时钟信号的周期时间加以确定,由检测器所提供给器件的控制信号的输入设置时间和输入保持时间分别在IC器件的每个操作周期下分别加以测量。

公开(公告)号：CN1118708C

公开(公告)日：2003-08-20

申请号：CN97116548.3

申请日：1997-09-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 权赫 ,  金东顼 ,  赵根原 ,  沈贤燮

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/28 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/31922

Abstract: 一种可检测高速同步存储器件的检测方法，该检测方法可使通过检测器所产生的脉冲信号变换为具有比最低速率高的频率的时钟信号，检测设备的检测周期基于脉冲信号的周期时间加以确定，IC器件的操作周期基于时钟信号的周期时间加以确定，由检测器所提供给器件的控制信号的输入设置时间和输入保持时间分别在IC器件的每个操作周期下分别加以测量。