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公开(公告)号：CN102356590B
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201080012455.5
申请日：2010-03-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L1/20
CPC classification number: H04L1/206 , G11B20/10009 , G11B20/10305 , G11B20/10314 , H04B17/318
Abstract: 一种信号质量测量设备包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，使用至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量。
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公开(公告)号：CN101674070A
公开(公告)日：2010-03-17
申请号：CN200910173145.0
申请日：2009-09-11
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/10009 , G11B20/10101 , G11B20/10296 , G11B20/10481 , G11B2220/2537 , H03M13/353 , H03M13/3961 , H03M13/41 , H03M13/6343
Abstract: 一种产生维特比解码器的参考电平的设备和方法。一种针对输入信号产生维特比解码器的最佳参考电平的设备，所述设备包括：第一参考电平检测单元，使用维特比解码器的延迟输入信号和维特比解码器的输出信号来检测第一参考电平；第二参考电平检测单元，使用比延迟输入信号晚一个时钟周期和比延迟输入信号早一个时钟周期输入的输入信号和所述输出信号，来检测第二参考电平；控制单元，使用在第一参考电平检测单元中计算的第一参考电平的第一平方电平误差和在第二参考电平检测单元中计算的第二参考电平的第二平方电平误差之间的比较结果，来将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平控制为维特比解码器的参考电平。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102356590A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201080012455.5
申请日：2010-03-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L1/20
CPC classification number: H04L1/206 , G11B20/10009 , G11B20/10305 , G11B20/10314 , H04B17/318
Abstract: 一种信号质量测量设备包括：二进制信号产生单元，从输入信号产生二进制信号；电平信息提取单元，使用至少两个窗长度从输入信号和二进制信号之间的关系提取电平信息；质量计算单元，基于所述电平信息计算输入信号的质量。
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公开(公告)号：CN101485092A
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200780025442.X
申请日：2007-07-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03L7/06 , G11B20/10009 , G11B20/10222 , G11B20/10425 , H03L7/087
Abstract: 一种相位检测设备和方法、PLL电路及其控制方法以及信号再现设备和方法，其能够在减小用于具有高ISI情况的光盘再现系统中的硬件规模的同时提供抗噪声和抗ISI特征，包括：脉冲形成单元，用于检测输入信号的二进制数据；理想输入信号产生单元，用于基于检测的二进制数据来产生理想输入信号；以及相位误差信号产生单元，用于基于输入信号和理想输入信号来产生相位误差信号。
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公开(公告)号：CN101233690A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680027843.4
申请日：2006-08-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H03L7/091
Abstract: 一种具有高ISI条件的高密度光盘再现系统中的锁相环电路和锁相环控制方法，该锁相环电路和锁相环控制方法能够基于在整个范围具有预定均匀分布的模式(诸如同步模式)来检测输入信号的相位误差和频率误差。该锁相环电路包括：采样器，根据从所述锁相环电路输出的采样时钟对输入信号进行采样；模式检测信号/相位误差产生单元，如果从采样器输出的采样的输入信号具有预定模式，则产生用于指示所述预定模式的检测的模式检测信号，检测采样的输入信号和输入信号的零交叉点之间的相位误差，并输出所述相位误差；以及采样时钟产生单元，基于模式检测信号和相位误差来产生采样时钟，其中，所述预定模式是均匀分布在输入信号能够被输入的整个范围的模式。
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公开(公告)号：CN101300624A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040936.0
申请日：2006-12-20
IPC: G11B7/0045
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B20/10055
Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法，包括：在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据；将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较；以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。
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公开(公告)号：CN1877731A
公开(公告)日：2006-12-13
申请号：CN200610091832.4
申请日：2006-06-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: H03L7/091 , G11B20/10009 , G11B20/10037 , G11B20/10222 , G11B20/10425 , G11B20/14 , G11B2220/2541 , G11B2220/2579
Abstract: 一种实现在锁相环(PLL)电路中高速检测频率误差的方法的频率检测器，包括：行程信号检测单元，在频率检测周期中基于预定的行程信号的分布密度，从采样的射频(RF)信号检测行程信号；计数器单元，包括至少一个在频率检测周期中对检测的行程信号计数的计数器；边沿计数器，通过对经过的采样射频信号的边沿计数来控制频率检测周期；以及频率误差生成单元，利用从所述至少一个计数器输出的计数结果和预定参考值，在频率检测周期中生成频率误差。
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