公开(公告)号：CN101277385B

公开(公告)日：2012-07-04

申请号：CN200810088410.0

申请日：2008-03-26

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 辛成基 ,  金在锡 ,  金东郁 ,  李炯汉 ,  李元宰 ,  安志勋

IPC: H04N5/367

Abstract: 一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法和装置、以及一种从图像传感器中捕获图像以检测图像传感器中的坏像素的方法和装置。感测图像帧的场景变化，以及如果感测到场景变化，则执行检测像素阵列中的坏像素的检测操作。

公开(公告)号：CN101277385A

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200810088410.0

申请日：2008-03-26

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 辛成基 ,  金在锡 ,  金东郁 ,  李炯汉 ,  李元宰 ,  安志勋

IPC: H04N5/217 ,  H04N17/00

Abstract: 一种检测在具有像素阵列以产生多个图像帧的图像传感器中的坏像素的方法和装置、以及一种从图像传感器中捕获图像以检测图像传感器中的坏像素的方法和装置。感测图像帧的场景变化，以及如果感测到场景变化，则执行检测像素阵列中的坏像素的检测操作。