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公开(公告)号：CN112420553A
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN202010824509.3
申请日：2020-08-17
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 安泰兴 , 拉辛·爱丽霞·奥克斯特·拿索 , 具男一 , 朴秀桓 , 吴相演
IPC: H01L21/67 , H01L21/683
Abstract: 一种晶圆检查设备，包括支撑结构，其包括框架和安装在框架上的真空吸盘，每一个真空吸盘具有包括真空抽吸部分的支撑表面，所述支撑结构被配置为在结构上支撑一个或多个真空吸盘上的晶圆，所述框架限定其面积大于晶圆的面积的开口。所述晶圆检查设备包括：电磁波发射器，其被配置为将检查电磁波辐射到晶圆；传感器，其被配置为基于穿过晶圆的检查电磁波从晶圆接收检查电磁波；以及驱动器，其被配置为移动电磁波发射器和框架中的至少一个，以改变晶圆的辐射位置。每一个真空吸盘被配置为关于框架在第一位置与第二位置之间选择性地可移动。
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