公开(公告)号：CN100505092C

公开(公告)日：2009-06-24

申请号：CN200410098352.1

申请日：2004-12-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔炯讚 ,  金致旭 ,  郑秉勋

IPC: G11C11/407 ,  H01L23/58 ,  H03H11/00

CPC classification number: G11C5/147 ,  G11C5/14

Abstract: 至少一个共用电容器的去耦电容被分布在多个电压源之间，用于增强半导体器件的性能并且具有半导体器件的最小面积。这样的电压源的高节点和低节点的每个包括至少两个相异的节点，用于降低在电压源的噪音。本发明以特别的优点被应用来根据半导体器件的位结构而将可变数量的共用电容器耦接到数据充电电压源。

公开(公告)号：CN102681868A

公开(公告)日：2012-09-19

申请号：CN201110456338.4

申请日：2011-12-30

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李钟旻 ,  崔炯讚 ,  崔熙柱 ,  辛承万

IPC: G06F9/445 ,  G06F11/30

CPC classification number: G06F11/2284 ,  G06F9/4401 ,  G06F11/2289

Abstract: 一种对包括在引导操作期间被选择性地测试的易失性存储器器件的信息处理系统进行引导的方法，该方法包含：从信息处理系统读取当前系统配置信息的步骤；把当前系统配置信息与非易失存储器器件中相应的预先存储的系统配置信息进行比较的步骤；以及根据比较结果选择性地执行对易失性存储器器件的测试的步骤。一种信息处理系统包含：电路板；安装在电路板上的处理器；安装在电路板上并耦合到处理器的易失性存储器器件；以及被配置成存储电路板、处理器和易失性存储器器件的序列号的非易失性存储器器件，其中，处理器被配置成用于监视测试易失性存储器器件的触发条件，并被配置成选择性地执行用于检查易失性存储器器件中的存储器单元的测试和用于优化连接在易失性存储器器件和处理器之间的信道的信号完整性的训练。

公开(公告)号：CN1710665A

公开(公告)日：2005-12-21

申请号：CN200410098352.1

申请日：2004-12-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 崔炯讚 ,  金致旭 ,  郑秉勋

IPC: G11C11/407 ,  H01L23/58 ,  H03H11/00

CPC classification number: G11C5/147 ,  G11C5/14

Abstract: 至少一个共用电容器的去耦电容被分布在多个电压源之间，用于增强半导体器件的性能并且具有半导体器件的最小面积。这样的电压源的高节点和低节点的每个包括至少两个相异的节点，用于降低在电压源的噪音。本发明以特别的优点被应用来根据半导体器件的位结构而将可变数量的共用电容器耦接到数据充电电压源。