Invention Grant
- Patent Title: 变化的杂质分布区形成方法及半导体器件
- Patent Title (English): Varied impurity profile region formation method and semiconductor device
-
Application No.: CN200610087754.0Application Date: 2006-05-30
-
Publication No.: CN1873920BPublication Date: 2012-12-26
- Inventor: 路易斯·D.·兰泽洛蒂 , 杰伊·莱斯科 , 斯蒂芬·A.·圣昂格 , 戴维·C.·谢里登 , 布拉德利·A.·奥纳 , 道格拉斯·D.·库尔鲍
- Applicant: 国际商业机器公司
- Applicant Address: 美国纽约
- Assignee: 国际商业机器公司
- Current Assignee: 格芯公司
- Current Assignee Address: 美国纽约
- Agency: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- Agent 王永刚
- Priority: 10/908,884 2005.05.31 US
- Main IPC: H01L21/265
- IPC: H01L21/265 ; H01L21/331 ; H01L21/822

Abstract:
公开了用散射的离子来形成集电极的变化的杂质分布同时形成子集电极的方法。在一个实施方案中,本发明包括:提供衬底;在衬底上形成包括第一尺度的第一开口的掩模层;以及基本上同时通过第一开口在衬底(子集电极)中第一深度处形成第一杂质区和在衬底中不同于第一深度的第二深度处形成第二杂质区。利用第一尺度的尺寸,亦即第一开口到器件有源区的距离,能够控制器件的击穿电压。利用单个掩模和单个注入,大量不同尺寸的开口可以被用来提供击穿电压不同的器件。还公开了一种半导体器件。
Public/Granted literature
- CN1873920A 变化的杂质分布区形成方法及半导体器件 Public/Granted day:2006-12-06
Information query
IPC分类: