用于源安装封装的可焊接的顶部金属化和钝化
摘要:
一个位于半导体芯片上的含银可焊接触点具有其与一环氧钝化层的面对面边缘间隔开的外边缘,因此,在焊接之后,没有银离子存在,且不会自由迁移到所述环氧层之下而形成枝状结晶。
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