发明公开
CN1260591A 半导体封装及其制造方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体封装及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor package and mfg. method thereof
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申请号: CN99122957.6申请日: 1999-12-29
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公开(公告)号: CN1260591A公开(公告)日: 2000-07-19
- 发明人: 朴相昱 , 许民
- 申请人: 现代电子产业株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 现代电子产业株式会社
- 当前专利权人: 现代电子产业株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 柳沈知识产权律师事务所
- 代理商 杨梧
- 优先权: 59972/1998 1998.12.29 KR
- 主分类号: H01L23/48
- IPC分类号: H01L23/48 ; H01L23/28 ; H01L21/60 ; H01L21/56
摘要:
本发明提供结构简单并且可以强化抵抗异物侵入的能力和机械强度的半导体封装及其制造方法。本发明包括:以焊盘朝向上部方式配置的半导体芯片;蒸镀在所述半导体芯片的焊盘、两侧壁和下表面的一部分上的金属线;以形成使所述半导体芯片的下表面上蒸镀的金属线部分露出的球形焊区的方式、模压整个制成物的密封剂;和固定在所述球形焊区上的焊球。
公开/授权文献
- CN1175488C 半导体封装及其制造方法 公开/授权日:2004-11-10
IPC分类: