本发明属于加热盘质量检测技术领域，具体涉及一种半导体加热盘质量检测装置及检测方法，包括：装置壳体，所述装置壳体内利用隔板分隔成腔室一和腔室二，所述腔室一内设置有用于安放半导体加热盘的放置机构，所述放置机构的上方设置有受热机构，所述腔室二内设置有冷却机构；所述腔室一和腔室二的外侧端分别对应设置有门体一和门体二，所述门体一上安装有控制面板；利用控制面板控制向半导体加热盘输出不同的电流，使半导体加热盘产生不同的功率，检测出半导体加热盘在不同功率下的使用寿命，通过控制面板控制向半导体加热盘输入的电流大小，从而可以检测在该电流下，所产生的实际功率下，能够正常使用的实际寿命。