一种相控阵高低温下G/T值测试方法，包括如下步骤：步骤一、将待测天线放置在透波温箱内，朝向一侧。将发射放置在透波温箱外，与待测天线对准。步骤二、用射频电缆连接待测天线与接收机形成测试路，用射频电缆连接信号源、耦合器、发射天线、同时穿过透波温箱连接接收机形成参考路。步骤三、利用控制线缆连接控制电脑、待测天线、信号源、接收机、温度控制设备。步骤四、利用控制电脑控制各个设备进行温度控制、信号开关以及测试路与参考路的信号采集。步骤五、按照本发明提出了方法对采集数据进行处理并结合常规测试时得到的天线G/T值以及对应的温度进行计算，得到相控阵高低温下的G/T值测量结果。