发明公开
- 专利标题: 基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法
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申请号: CN202410963859.6申请日: 2024-07-18
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公开(公告)号: CN118913134A公开(公告)日: 2024-11-08
- 发明人: 孙金露 , 郭志诚 , 王晓阳 , 李玉强 , 郑曜 , 高越峰 , 梁耀 , 张诚
- 申请人: 天津工业大学 , 阳泉晋邦科技有限公司
- 申请人地址: 天津市西青区宾水西道399号;
- 专利权人: 天津工业大学,阳泉晋邦科技有限公司
- 当前专利权人: 天津工业大学,阳泉晋邦科技有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市西青区宾水西道399号;
- 代理机构: 天津市三利专利商标代理有限公司
- 代理商 仝林叶
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24 ; G06T5/40 ; G06T5/90 ; G01N21/84 ; G01N21/45
摘要:
本发明公开了一种基于干涉成像和傅里叶变换的粒子形态识别方法。本发明的步骤1、搭建干涉粒子成像系统,获取多分散系粒子场的单粒子干涉离焦像;步骤2、对所得干涉离焦像进行对比度增强和中值滤波时域去噪;步骤3、对处理后的图像进行二维傅里叶变换,得到频谱后进行低通滤波;步骤4、对低通滤波后的频谱进行二值化;步骤5、对二值图中的白色像素点进行遍历,若白色像素点的周围八个邻域内还存在白色像素点,统计白色像素整体数目,若为1就是非球形粒子,若大于1就是球形粒子。本发明可以实现多分散系粒子场中粒子形态的识别,为复杂粒子场测量提供技术支持。