发明公开
- 专利标题: 一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置
-
申请号: CN202410769630.9申请日: 2024-06-14
-
公开(公告)号: CN118781058A公开(公告)日: 2024-10-15
- 发明人: 余文勇 , 秦海波 , 李逸航 , 王英杰
- 申请人: 华中科技大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人: 华中科技大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
- 代理机构: 华中科技大学专利中心
- 代理商 许恒恒
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/593 ; G06T7/62 ; G06V10/26 ; G06V10/82
摘要:
本发明提供一种基于双目孔探相机的工件表面缺陷面积测量方法及装置,属于缺陷检测技术领域。缺陷面积测量方法包括:S1,通过双目孔探相机采集待检测工件的图像,得到深度图和RGB图像;S2,通过深度学习图像分割网络对所述RGB图像进行缺陷识别,得到缺陷掩模图;S3,对所述深度图进行滤波,得到预处理深度图;S4,将所述缺陷掩模图的缺陷区域分割为若干个三角形,结合所述预处理深度图的深度值,得到每个三角形的面积,然后累加得到缺陷区域的总面积。本发明基于缺陷的掩膜信息和深度信息相关数据,通过有限元的分析方法能够计算得到缺陷的面积,适用于发动机内部、管道内部、腔体类工件内部的检测。