发明公开
- 专利标题: 雷达-红外光电轴高精度自动校准方法与系统
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申请号: CN202410837434.0申请日: 2024-06-26
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公开(公告)号: CN118759471A公开(公告)日: 2024-10-11
- 发明人: 李艳红 , 田义 , 王超峰 , 张宇 , 刘星任 , 闫宏雁 , 朱斐越 , 洪君 , 杨扬 , 柴娟芳
- 申请人: 上海机电工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区中春路1333-1号
- 专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区中春路1333-1号
- 代理机构: 上海汉声知识产权代理有限公司
- 代理商 胡晶
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40 ; G01J5/80 ; G01J5/48
摘要:
本发明提供了一种雷达‑红外光电轴高精度自动校准系统及方法,包括:红外校准分系统和雷达校准分系统设置在一体化机械结构件内;红外校准分系统,用于对红外光轴指向误差进行测试;雷达校准分系统,用于对射频电磁辐射形成的静区近似平面波场的振幅分布、相位分布和电轴指向误差进行测试;校准控制系统,用于控制红外校准分系统和射频校准分系统;基于红外光轴指向误差和电轴指向误差计算光‑电轴指向误差,并判断光‑电轴指向误差是否满足预设要求,当不满足预设要求时,则对电轴和光轴进行校准,重新对红外光轴指向误差进行测试以及对电轴指向误差进行测试,直至直至光‑电指向误差满足预设要求。