发明公开
- 专利标题: 一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷检测方法
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申请号: CN202410744471.7申请日: 2024-06-11
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公开(公告)号: CN118608852A公开(公告)日: 2024-09-06
- 发明人: 赵亮 , 邱太文 , 夏仁波 , 丁瑶 , 赵吉宾 , 王亚齐 , 张涛 , 陈沙 , 徐小芳 , 余玮琛
- 申请人: 中国科学院沈阳自动化研究所 , 上海飞机制造有限公司
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号;
- 专利权人: 中国科学院沈阳自动化研究所,上海飞机制造有限公司
- 当前专利权人: 中国科学院沈阳自动化研究所,上海飞机制造有限公司
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市沈河区南塔街114号;
- 代理机构: 沈阳科苑专利商标代理有限公司
- 代理商 周宇
- 主分类号: G06V10/764
- IPC分类号: G06V10/764 ; G06V10/762 ; G06V10/82 ; G06V10/30 ; G06N3/0464
摘要:
本发明涉及一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷检测方法,包括以下步骤:控制工业相机移动至被测工件表面正上方,开启卤素光源;控制相机采集被测工件的高光谱数据,包括2D图像I1与波段信息;对I1进行高斯金字塔图像下采样生成新图像I2;将I2划分为多个图像块;对每个图像块,获取图像块中每个像素点的光谱曲线并聚类为2类,以包含曲线数量最大的类的平均光谱曲线作为当前图像块特征曲线;对特征曲线进行SG卷积平滑去除噪点;建立1D‑CNN神经网络模型,对特征曲线分类训练,使其判断当前图像块是否有粉化缺陷;可视化标注缺陷位置。本发明可实现铝合金工件表面氧化膜是否发生粉化缺陷的自动检测,提供了一种基于光谱曲线分类的铝合金氧化膜粉化缺陷自动化检测的新途径。