发明公开
- 专利标题: 一种航发钛合金叶片材料电阻率的精确测量方法
-
申请号: CN202410591192.1申请日: 2024-05-13
-
公开(公告)号: CN118444023A公开(公告)日: 2024-08-06
- 发明人: 谢乐春 , 李嘉顺 , 温艳 , 龚佳伟 , 刘畅 , 华林
- 申请人: 武汉理工大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 代理机构: 湖北创融蓝图知识产权代理事务所
- 代理商 陶专
- 主分类号: G01R27/08
- IPC分类号: G01R27/08 ; G01R1/067 ; G01R35/00
摘要:
本发明提供一种航发钛合金叶片材料电阻率精确测量方法,属于重要物性参数测试领域,步骤如下:将航发钛合金叶片材料用钨丝线切割、经过砂纸预磨后将试样表面抛光制得规定尺寸的样品基底;设计出符合测试要求图案后,将样品基底通过匀胶机涂抹光刻胶后放入光刻机进行光刻,放入显影液中反应;后将样品送入物理气相沉积仪器制作得到待测样品;将样品放入探针台测量系统,利用等效电路方式消除测量误差,最终得到精确的电阻率;样品为表面镀上纯金层(纯度为99.999%)和钛层的航发钛合金叶片材料,本发明测量的电阻率精度高,适合关键构件材料的精确测量,可以为现有航发钛合金叶片电阻率与其服役性能之间建立联系,为材料强化的发展提供理论基础。