本发明提供的缺陷聚类方法、系统和设备，针对检测图像进行缺陷识别，确定出原始缺陷块及原始缺陷块的第一位置信息；对检测图像中的各个原始缺陷块的第一位置信息按预设条件进行映射处理，得到各个原始缺陷块映射后的第二位置信息；根据各个原始缺陷块的第二位置信息，确定出需聚类的目标缺陷块，进而对目标缺陷块进行聚类。本发明通过将各个原始缺陷块的第一位置信息进行映射，使各个原始缺陷块的第二位置信息之间更加紧凑，从而能更为精准的确定出需要聚类的目标缺陷块，减少了聚类的数据量，从而提高了缺陷检测的效率。