Invention Grant
- Patent Title: 一种高功率微波后门强耦合参数提取方法及装置
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Application No.: CN202410291933.4Application Date: 2024-03-14
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Publication No.: CN118191775BPublication Date: 2024-11-05
- Inventor: 冯溪溪 , 赵景涛 , 曹垒 , 戈弋 , 袁欢 , 陈自东 , 赵刚
- Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- Applicant Address: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号919-1015信箱
- Assignee: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- Current Assignee: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
- Current Assignee Address: 四川省绵阳市游仙区绵山路64号919-1015信箱
- Agency: 北京同辉知识产权代理事务所
- Agent 侯春扬
- Main IPC: G01S7/41
- IPC: G01S7/41

Abstract:
本发明提供了一种高功率微波后门强耦合参数提取方法及装置,包括:信号产生单元,包括信号源和信号发射器,信号发射器与信号源连接,信号发射器用于向待测目标发射探测信号;回波信号接收组件,用于接收回波信号;特征提取单元,与回波信号接收组件连接,特征提取单元包括时域信号采集模块和频域信号采集模块,时域信号采集模块用于提取回波信号中与强耦合相关的时域特征,频域信号采集模块用于提取回波信号中与强耦合相关的频域特征;计算单元,与特征提取单元连接,计算单元对提取到的强耦合时域特征和强耦合频域特征进行分析处理,得出目标强耦合参数。解决了相关技术中提取的高功率微波强耦合参数普适性不够的技术问题。
Public/Granted literature
- CN118191775A 一种高功率微波后门强耦合参数提取方法及装置 Public/Granted day:2024-06-14
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