发明公开
- 专利标题: 缺陷检测系统、方法、装置、设备及存储介质
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申请号: CN202311836488.7申请日: 2023-12-27
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公开(公告)号: CN117849051A公开(公告)日: 2024-04-09
- 发明人: 田依杉 , 兰艳平 , 尹光才 , 孔寒夫
- 申请人: 上海御微半导体技术有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
- 专利权人: 上海御微半导体技术有限公司
- 当前专利权人: 上海御微半导体技术有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区芳春路400号1幢3层
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 陈浩
- 主分类号: G01N21/88
- IPC分类号: G01N21/88
摘要:
本发明实施例公开了一种缺陷检测系统、方法、装置、设备及存储介质。该系统包括:载物台、照明子系统、成像子系统、与所述照明子系统相对应的传感器及处理器;所述照明子系统及所述传感器均与所述处理器相连;所述成像子系统设置于所述载物台之上,用于对放置于所述载物台上的被检测物体进行成像;所述照明子系统设置于所述成像子系统的入射光路上,所述传感器设置于所述成像子系统的成像光路上;所述被检测物体中的目标区域位于所述照明子系统的照射区域中。该系统能够提高检测效率,保证检测结果的准确性。