本申请涉及图像处理技术领域，公开一种IGBT芯片的检测方法，应用于IGBT芯片的检测装置，包括上料模块、检测模块、缓存模块和下料模块；该方法包括：在上料模块检测到检测人员放置的IGBT芯片时，上料模块将IGBT芯片输送至检测模块；检测模块采集并存储IGBT芯片的检测图像，并通过识别IGBT芯片的检测图像，判断IGBT芯片是否合格，以生成检测结果，以及将检测完成的IGBT芯片输送至缓存复检模块；缓存复检模块在IGBT芯片合格的情况下，将合格的IGBT芯片输送至下料模块；下料模块将合格的IGBT芯片输送至取料位置。本申请中，实现了对IGBT芯片表面的图像进行自动识别，提升了IGBT芯片表面的检测效率。本申请还公开一种IGBT芯片的检测装置及设备、存储介质。