Invention Grant
- Patent Title: 一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法及系统
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Application No.: CN202311800192.XApplication Date: 2023-12-26
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Publication No.: CN117459162BPublication Date: 2024-02-23
- Inventor: 冯家煦 , 董长青 , 秦孔建 , 姜国凯 , 吴飞燕 , 田晓笛 , 和福建 , 张起朋 , 田喆 , 赵猛 , 温泉 , 杨志强 , 季国田 , 郭金蔓 , 盛苗苗
- Applicant: 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研汽车检验中心(天津)有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
- Applicant Address: 天津市东丽区先锋东路68号
- Assignee: 中国汽车技术研究中心有限公司,中汽研汽车检验中心(天津)有限公司,中汽研软件测评(天津)有限公司
- Current Assignee: 中国汽车技术研究中心有限公司,中汽研汽车检验中心(天津)有限公司,中汽研软件测评(天津)有限公司
- Current Assignee Address: 天津市东丽区先锋东路68号
- Main IPC: H04B17/15
- IPC: H04B17/15 ; H04B17/29

Abstract:
本发明提供一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法及系统,一般涉及紧缩场测试技术领域,该方法的实施基于无线性能测试装置,包括馈源、反射件和旋转台,反射件具有反射面;方法包括:将馈源置于反射面的焦点位置,获取馈源的原始相位;旋转旋转台,获取待测设备的第一散射参数;沿第一直线移动馈源,移动距离为第一距离;将第一距离输入相位补偿模型获得补偿相位以获得调整相位,调整馈源的原始相位至调整相位;旋转旋转台,获取待测设备的第二散射参数;重复沿第一直线移动馈源,获得若干第二散射参数;以第一散射参数和若干组第二散射参数表征待测设备的无线通信性能。本发明提供的方法可在反射面尺寸一定的情况下增大测试静区的尺寸。
Public/Granted literature
- CN117459162A 一种基于紧缩场静区扩展的无线性能测试方法及系统 Public/Granted day:2024-01-26
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