本申请涉及一种缺陷场景下点云的降采样方法及装置，其中，该方法包括：获取当前检测到的缺陷结果的点云集合，其中，点云集合中包括用于表征目标设备的缺陷部位的三维点；以预设长度为立体方格的长，在空间直角坐标系中将点云集合分割为多个连续的立体方格；确定每一个立体方格中每一个点与基准法向量之间的法向量夹角，其中，基准法向量为立体方格中三维坐标为0的点作为基准点得到的法向量；基于法向量夹角确定立体方格的复杂度；基于复杂度和距离降采样阈值确定采样系数，并基于采样系数对点云集合进行降采样。通过本申请，解决了现有技术中进行均匀的降采样导致点云缺失大量细节的问题。