本说明书实施例提供缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中缺陷检测方法包括：获取初始缺陷图像，对初始缺陷图像进行优化处理，得到目标缺陷图像；基于目标缺陷图像进行特征提取，得到初始缺陷特征图像；基于初始缺陷特征图像进行特征增强处理，得到目标缺陷特征图像；基于目标缺陷特征图像进行图像提取，得到局部缺陷图像；对局部缺陷图像进行图像分析，确定缺陷区域。通过对初始缺陷图像进行优化处理、基于初始缺陷特征图像进行特征增强处理以及基于目标缺陷特征图像进行图像提取，提高了检测精度，并且降低了检测时间，由此实现了更高的检测效率。