发明公开
- 专利标题: 分光测定装置和分光测定方法
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申请号: CN202280028359.2申请日: 2022-03-30
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公开(公告)号: CN117280196A公开(公告)日: 2023-12-22
- 发明人: 石丸伊知郎
- 申请人: 国立大学法人香川大学
- 申请人地址: 日本香川县
- 专利权人: 国立大学法人香川大学
- 当前专利权人: 国立大学法人香川大学
- 当前专利权人地址: 日本香川县
- 代理机构: 北京林达刘知识产权代理事务所
- 代理商 刘新宇; 李靖
- 优先权: 2021-067907 2021.04.13 JP
- 国际申请: PCT/JP2022/016340 2022.03.30
- 国际公布: WO2022/220145 JA 2022.10.20
- 进入国家日期: 2023-10-13
- 主分类号: G01N21/27
- IPC分类号: G01N21/27
摘要:
本发明是对包含从测定对象物发出的光的测定光(110)进行检测并对从所述测定对象物发出的光的分光特性进行测定的分光测定装置(100),其特征在于,具备:分光光学系统,其对所述测定光(110)进行分光;检测部(40),其对由所述分光光学系统进行分光后的光的强度进行检测;分光特性获取部(504),其基于所述检测部的检测结果来获取测定光分光特性,所述测定光分光特性表示所述测定光的光强度与波长之间的关系;存储部(503),其存储背景光候选分光特性信息,所述背景光候选分光特性信息是表示反映了所述检测部(40)的分光灵敏度特性的背景光候选的分光特性的信息;以及运算处理部(504),其根据所述测定光分光特性和所述背景光候选分光特性信息,求出从所述测定对象物的周围发出的光即背景光的分光特性。
公开/授权文献
- CN117280196B 分光测定装置和分光测定方法 公开/授权日:2024-10-18