发明公开
- 专利标题: 一种基于二分法的图像缺陷定位方法
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申请号: CN202310847125.7申请日: 2023-07-11
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公开(公告)号: CN117094944A公开(公告)日: 2023-11-21
- 发明人: 郭磊 , 尹仕斌 , 陈强 , 赵进
- 申请人: 易思维(杭州)科技有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室
- 专利权人: 易思维(杭州)科技有限公司
- 当前专利权人: 易思维(杭州)科技有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06V10/74 ; G06V10/80 ; G06V10/44 ; G06T7/13
摘要:
本发明公开一种基于二分法的图像缺陷定位方法,包括:将待测图像和模板图像等分成两份;分别计算具有对应关系的待测子图像与模板子图像之间的图像相似度;根据图像相似度将待测子图像与模板子图像存储到异常图像集合、正常图像集合;若异常图像集合中的待测子图像的图像尺寸不小于等于阈值,则将异常图像集合中具有对应关系的待测子图像与模板子图像再等分成两份,进行图像比对;否则将该待测子图像记为缺陷所在区域,完成缺陷定位。本方法利用二分法提升缺陷定位速度的同时,还通过融合边缘相似性,解决了图像稳定性差、明暗不均的引起的缺陷定位精度差的问题,具有定位精度高、处理速度快的特点,尤其适用于在线缺陷检测过程。