发明公开
- 专利标题: 双模式原位表征材料亚表面区域压痕测试方法及测试装置
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申请号: CN202310655806.3申请日: 2023-06-05
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公开(公告)号: CN117054273A公开(公告)日: 2023-11-14
- 发明人: 王顺博 , 李先柯 , 赵宏伟
- 申请人: 吉林大学
- 申请人地址: 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号
- 专利权人: 吉林大学
- 当前专利权人: 吉林大学
- 当前专利权人地址: 吉林省长春市长春高新技术产业开发区前进大街2699号
- 代理机构: 吉林省中玖专利代理有限公司
- 代理商 姜姗姗
- 主分类号: G01N3/42
- IPC分类号: G01N3/42 ; G01N3/02 ; G01N23/2251 ; G01N23/2206 ; G01N23/2202 ; G01N23/203 ; G01N23/20058 ; G01N23/20008
摘要:
本发明涉及一种双模式原位表征材料亚表面区域的压痕测试方法及测试装置,适用于扫描电镜内原位观测,将试样与楔形压头分别固定于原位测试装置的夹具中,并使试样已抛光一侧位于扫描电镜内电子背散射衍射仪可观测位置与角度,在楔形压头压入试样表面的过程中,通过扫描电镜原位获取压痕接触表面下方区域的形貌变化,同时扫描电镜内的电子背散射衍射仪同步获取压痕接触表面下方区域的晶体结构变化,可进一步计算该区域的晶体取向变化与位错分布,结构简单可操作性强、表征效果好,在扫描电镜内获取压痕接触表面下方区域变形损伤过程,提升对晶体材料微区载荷作用下接触行为的理解。