- 专利标题: 片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质
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申请号: CN202311266235.0申请日: 2023-09-28
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公开(公告)号: CN117007611B公开(公告)日: 2024-01-09
- 发明人: 葛铭 , 魏鹏 , 魏江 , 沈井学
- 申请人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号11幢902室
- 专利权人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 当前专利权人: 杭州百子尖科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号11幢902室
- 代理机构: 北京品源专利代理有限公司
- 代理商 李彩玲
- 主分类号: G01N21/95
- IPC分类号: G01N21/95 ; G01N21/88
摘要:
本发明公开了一种片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质。该方法包括:确定目标片状材料以及确定目标片状材料是否存在对应的参考片状材料,目标片状材料中的片材缺陷与参考片状材料中的片材缺陷之间的缺陷位置距离小于预设差值,预设差值用于判断两个片材缺陷是否位于相同位置;若存在,确定目标片状材料中片材缺陷对应的目标缺陷特征信息,以及确定参考片状材料中片材缺陷对应的参考缺陷特征信息;依据目标缺陷特征信息与参考缺陷特征信息,确定目标片状材料上的片材缺陷是否为周期性缺陷。该方法解决了由于光照、颜色、缺陷裁切不全、深浅形貌等原因造成畸变时,无法判别片状材料缺陷类型,从而造成周期性缺陷
公开/授权文献
- CN117007611A 片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质 公开/授权日:2023-11-07