本申请涉及一种对不同算法求解的电容结果进行比较的方法及电子设备。方法包括：获取采用不同算法对目标电路版图提取寄生电容得到的第一电容提取信息和第二电容提取信息，第一电容提取信息包括第一节点的图形信息及不同第一节点之间的第一电容，第二电容提取信息包括第二节点的图形信息及不同第二节点之间的第二电容；根据图形信息，确定与至少一个目标第一节点对相匹配的至少一个目标第二节点对；获取至少一个目标第一节点对的第一电容以及至少一个目标第二节点对的第二电容；输出电容的比较结果。本申请基于节点图形信息对基于不同算法确定的节点进行匹配，进而确定不同算法求解的电容的比较结果，能够提高基于不同算法求解的电容的比较效率。