本申请公开了一种快速测量取向硅钢成品晶粒取向的方法。该方法包括：通过对取向硅钢成品表面进行处理，得到光亮且平整的金属基体，并通过扫描仪得到所述金属基体中晶粒的扫描照片；通过将所述扫描照片设置为灰度模式，确定所述晶粒的平均灰度值，并根据所述平均灰度值，确定所述晶粒的{110}晶面与轧面的夹角，以确定所述晶粒的晶面密勒指数；通过粉纹法对所述晶粒的磁畴进行观测，获得所述晶粒的磁畴壁与轧向的夹角；根据所述晶面密勒指数，以及所述磁畴壁与轧向的夹角，确定晶粒密勒指数，从而实现快速测量取向硅钢成品的晶粒取向。本申请提供的技术方案能够实现快速测量取向硅钢成品晶粒取向。