本发明属于数据存储技术领域，具体提供一种EEPROM数据可靠性校验方法，用于判断EEPROM存储的数据是否发生了非预期的变化。本发明包括：ECC校验与自检功能，EEPROM的最高地址写入对所有数据进行CRC计算的结果；ECC校验包括：ECC编码与ECC解码，ECC编码对待写入数据进行编码并写入；ECC解码对读出数据进行解码校验，并将错误信息反馈至主机；主机发送自检请求并对EEPROM所有地址进行依次读数据操作，读出数据经解码校验后输入至自检模块进行CRC计算，若ECC校验结果未出错且CRC计算结果为0、则判定数据可靠，否则、判定数据不可靠。本发明通过ECC校验与自检功能组合实现了对EEPROM数据可靠性的校验，进而实现提高系统可靠性的目的。