本发明公开了一种集成电路测试设备，涉及集成电路测试技术领域，包括主体，所述主体顶部设置有两组移动架，两组所述移动架内部皆设置有与对应真空吸盘相配合的移动机构。本发明当其中一组真空吸盘带动晶圆进行测试时，另外一组真空吸盘可以对其余的一组晶圆进行上料或者下料，真空吸盘带动晶圆做环形运动的同时进行一定程度的自转，进而不论移动架在任何位置时，真空吸盘的接口皆朝向外侧，进而通过气体流通机构更加便捷的对真空吸盘进行供气，真空吸盘可以相对于移动架进行移动，进而便于外界测试设备对晶圆的任意位置进行测试，整体晶圆测试效率较高，有效提升了整体的工作效率，提高了测试效率。