Invention Publication
- Patent Title: 基于多元性能退化的可靠性评价方法、装置和设备
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Application No.: CN202310349715.7Application Date: 2023-04-04
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Publication No.: CN116127785APublication Date: 2023-05-16
- Inventor: 潘广泽 , 李丹 , 陈勃琛 , 孙立军 , 王远航 , 刘文威 , 杨剑锋 , 丁小健
- Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Applicant Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
- Current Assignee Address: 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
- Agency: 华进联合专利商标代理有限公司
- Agent 左帮胜
- Main IPC: G06F30/20
- IPC: G06F30/20 ; G06F119/02

Abstract:
本申请涉及一种基于多元性能退化的可靠性评价方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括:对于目标产品包括的多个性能中的各个性能,获取该性能可能服从的多个候选函数,并从该多个候选函数中确定满足预设优选条件的目标函数,根据该目标函数确定该性能对应的可靠度函数;确定该目标产品的多个性能之间的耦合关系信息,并获取该目标产品的多个性能的冗余情况信息;根据该耦合关系信息、该冗余情况信息以及各该性能的可靠度函数对该目标产品进行可靠性评价。采用本方法可以实现对产品的多元性能退化进行可靠性评价,该方法不仅适用范围广,且得到的评价结果精准度也较高。
Public/Granted literature
- CN116127785B 基于多元性能退化的可靠性评价方法、装置和设备 Public/Granted day:2023-08-04
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