Invention Publication
- Patent Title: 用于真空环境下工作的微波辐射计定标源的锥形均温装置
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Application No.: CN202211707912.3Application Date: 2022-12-29
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Publication No.: CN116087855APublication Date: 2023-05-09
- Inventor: 李萍 , 杨寒旭 , 王超楠 , 成俊杰 , 程春悦
- Applicant: 北京无线电计量测试研究所
- Applicant Address: 北京市海淀区永定路50号12号楼
- Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee: 北京无线电计量测试研究所
- Current Assignee Address: 北京市海淀区永定路50号12号楼
- Agency: 中国航天科工集团公司专利中心
- Agent 张国虹
- Main IPC: G01R35/00
- IPC: G01R35/00 ; G01J5/53 ; G01J5/80

Abstract:
本发明公开了一种用于微波辐射计定标源的锥形均温装置,包括分液冷板、分液器、锥形均温结构、加热棒、电磁阀、单锥安装板、温度传感器、温度控制器、杜瓦管、杜瓦瓶。本发明将分液冷板产生并经锥形均温结构平滑的温度场传递到单锥安装板上;同时利用可控温的锥形均温结构对辐射体的物理温度场进行优化调节,从而解决目前微波辐射计定标源控温结构单一固定且笨重,实现了微波辐射计定标源物理温度从液氮到高温区连续可调前提下,减重,并适用于多种控温结构,并可实现为大口径微波辐射计定标源提供均温。
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