本发明公开了一种周期波形统计参数测量方法及装置，采用阶梯相位延迟采样的方法，采样点采样周期相对于初始采样点采样周期T0呈现阶梯型变化，逐渐增大再逐渐减小，或逐渐减小再逐渐增大，并回到初始采样点采样周期T0，然后再进行第二次循环，以此类推，从而实现了变采样率采样。用采样点采样周期阶梯型变化的采样时钟对被测的周期波形进行一段时间的连续采样得到一个数据集，并对这些采样点数据按照统计参数计算方法直接进行计算，则可得到准确的结果，从而避免了固定采样率系统中，对于频率为采样率整分数或整倍数的周期波形，采样点相位固定，从而无法获取波形更多相位点幅度信息的问题。同时，该处理流程简单，系统资源占用少，响应速度相对于顺序等效采样方法大幅提高。