- 专利标题: 一种集成电路版图孤岛和微孔的自动消除的方法和系统
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申请号: CN202211633416.8申请日: 2022-12-19
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公开(公告)号: CN115618789A公开(公告)日: 2023-01-17
- 发明人: 唐章宏
- 申请人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B座一层1106室
- 专利权人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯仿真科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区东北旺北京中关村软件园孵化器1号楼B座一层1106室
- 代理机构: 北京星通盈泰知识产权代理有限公司
- 代理商 葛战波
- 主分类号: G06F30/392
- IPC分类号: G06F30/392 ; G06F30/398 ; G06F111/04
摘要:
一种集成电路版图孤岛和微孔的自动消除的方法的系统,包括:集成电路版图中的定义为孔的部分和覆铜的部分转换为版图多边形并进行布尔操作,形成统一的版图多边形;基于网格识别所述统一的版图多边形中的孤岛和/或微孔的边界,且基于所述边界和网格生成用于覆盖所述孤岛和/或微孔的覆盖多边形;重新读入所述集成电路版图,连同所述的生成的覆盖多边形,生成新的集成电路版图,以消除初始集成电路版图包含的孤岛和/或微孔;通过对集成电路版图中的微孔和/或孤岛进行自动消除处理,避免微孔和孤岛出现在集成电路版图中影响版图的可靠性和在工艺生产中对产生的孤岛和微孔进行检测发现缺陷,降低集成电路制备成本,提升了生产效率。
公开/授权文献
- CN115618789B 一种集成电路版图孤岛和微孔的自动消除的方法和系统 公开/授权日:2023-03-17