本申请涉及一种变电缺陷关键信息抽取方法、装置、电子设备及存储介质，该变电缺陷关键信息抽取方法包括：对变电缺陷数据进行标注得到目标变电缺陷数据；将目标变电缺陷数据输入目标抽取模型中，采用“半指针‑半标注”的结构对目标变电缺陷数据进行抽取，得到目标关键语义特征，包括目标变电缺陷数据中的关键语义特征和目标变电缺陷数据中缺失的关键语义特征；对目标关键语义特征进行语义梳理，得到变电缺陷关键信息；变电缺陷关键信息包括变电缺陷的发生原因和变电缺陷的解决措施。这样，使用“半指针‑半标注”结构进行目标关键语义特征提取，可较全面地提取到目标变电缺陷数据中的三元组，避免最终得到的变电缺陷关键信息存在缺失。