本发明的实施例提供了一种相控阵芯片测试系统架构，涉及芯片测试技术领域，该相控阵芯片测试系统架构包括测试电路板、相控阵芯片、射频探针和数字信号处理模块，在实际测试时，可以将测试仪器与射频探针和测试电路板通信连接，从而分别实现对相控阵芯片的射频部分和数字部分的功能测试。相较于现有技术，本发明基于测试电路板结构上的设计，与数字布线层的结合，能够实现相控阵芯片完整的功能测试，并且成本低廉、生产周期段，结构可靠，同时简化了测试环境和测试设备的要求，只需要外接测试仪器即可实现测试平台的互联，并完成相应的测试。此外，本发明对相控阵芯片的测试更加全面，避免芯片测试不全面，导致潜在的使用风险。