发明授权
- 专利标题: 阵列式任意极化校准方法及装置
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申请号: CN202210403606.4申请日: 2022-04-18
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公开(公告)号: CN114894028B公开(公告)日: 2023-08-25
- 发明人: 闫宏雁 , 周小宁 , 臧海飞 , 郝恩义 , 张业鑫 , 柴娟芳 , 朱伟华 , 王立权 , 张宇 , 胡敬春
- 申请人: 上海机电工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区中春路1333-1号
- 专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区中春路1333-1号
- 代理机构: 上海汉声知识产权代理有限公司
- 代理商 胡晶
- 主分类号: F41A31/00
- IPC分类号: F41A31/00
摘要:
本发明提供了一种阵列式任意极化校准方法及装置,包括如下步骤:信号接收步骤:接收阵列式任意极化信号;调理选定步骤:将阵列式任意极化信号转化为带有极化特征的中频信号;测量分析步骤:对中频信号中的极化特征进行提取融合。本发明通过双极化接收天线阵列单元模块、信号调理与模式选定模块、极化特征测量与分析模块和极化特征解析校准软件实现阵列式任意极化目标信号分析和处理,确保任意极化信号特征提取的准确性,拟补传统技术无法实现阵列式任意极化目标校准的空白。
公开/授权文献
- CN114894028A 阵列式任意极化校准方法及装置 公开/授权日:2022-08-12