Invention Grant
- Patent Title: 一种用于半导体芯片封装的去溢料装置及其方法
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Application No.: CN202210211443.XApplication Date: 2022-02-28
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Publication No.: CN114571664BPublication Date: 2024-01-16
- Inventor: 邵雄明
- Applicant: 广东风华芯电科技股份有限公司
- Applicant Address: 广东省广州市萝岗区科学城南翔二路10号
- Assignee: 广东风华芯电科技股份有限公司
- Current Assignee: 广东风华芯电科技股份有限公司
- Current Assignee Address: 广东省广州市萝岗区科学城南翔二路10号
- Agency: 江西集睿智创知识产权代理有限公司
- Agent 白桂林
- Main IPC: B29C45/14
- IPC: B29C45/14 ; B29C45/17 ; H01L21/67
Abstract:
本发明涉及芯片封装技术领域,且公开了一种用于半导体芯片封装的去溢料装置及其方法,包括下支座和上支座,所述下支座的表面活动安装有下压块,且下压块的两侧分别放置有位于下压块上方的引脚,所述引脚与下支座活动安装,所述下压块的表面放置有上压块,所述上支座的内壁开设有驱动腔,且上支座的底端中部活动安装有防滑杆。本发明通过将其上压块的两侧设有防溢挡板,因而通过防溢挡板贴合上压块的两侧,从而当上压块贴合下压块的过程中,通过挤压出的注塑胶从防溢挡板上的输料孔输出,并在加工完成之后,通过拉断输料孔中的注塑胶,从而使得上压块的两侧不会出现多余的注塑胶体,进而保护了引脚不受影响,最终达到去溢料的目
Public/Granted literature
- CN114571664A 一种用于半导体芯片封装的去溢料装置及其方法 Public/Granted day:2022-06-03
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