Invention Grant
- Patent Title: 多通道射线检查设备
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Application No.: CN202011306389.4Application Date: 2020-11-19
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Publication No.: CN114527516BPublication Date: 2023-10-13
- Inventor: 张丽 , 黄清萍 , 洪明志
- Applicant: 同方威视技术股份有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Assignee: 同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee: 同方威视技术股份有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
- Agency: 中科专利商标代理有限责任公司
- Agent 孙纪泉
- Main IPC: G01V5/00
- IPC: G01V5/00 ; G01N23/04 ; G01N23/10

Abstract:
一种射线检查设备,包括:固定框架、多个检查通道、扫描装置和控制器。固定框架具有大致的圆环形。多个检查通道在所述固定框架的内部沿周向方向布置,每个检查通道适用于承载被检查的目标。扫描装置包括:辐射源2,安装在所述固定框架的中心,所述辐射源产生的辐射束能够辐射到每个检查通道;以及接收装置,以在所述周向方向上延伸的方式安装在所述固定框架上,并适用于接收穿过每个所述检查通道的所述辐射束。控制器适用于控制所述扫描装置对依次对每个检查通道内的目标进行扫描检查。多个检查通道可以共用一个扫描装置,在每个检查通道中都可以对被检查目标进行独立扫描检查。
Public/Granted literature
- CN114527516A 多通道射线检查设备 Public/Granted day:2022-05-24
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