摘要:
本发明公开一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法与系统,所述方法包括:对斜视SAR图像中的单点目标进行二维升采样成像,获得升采样的成像结果图;在所述升采样的成像结果图中选取图像质量分析控制点;利用所述控制点提取点目标的距离向剖面与方位向剖面;根据所述距离向剖面与方位向剖面,确定距离向图像质量参数与方位向图像质量参数。本发明相比于常规方法仅利用峰值点无法有效提取出斜视SAR点目标距离向剖面和方位向剖面,所述方法通过设置幅度比较窗选取图像质量分析控制点,并对控制点进行线性拟合,能够有效地提取出斜视SAR图像中的距离向和方位向剖面,从而进行斜视SAR成像质量分析。
公开/授权文献
- CN114415177B 一种基于控制点的斜视SAR图像单点目标分析方法 公开/授权日:2024-09-03