发明公开
CN114384344A 电子元件检查器具
审中-实审
- 专利标题： 电子元件检查器具
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申请号： CN202110812177.1申请日： 2021-07-19
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公开(公告)号： CN114384344A公开(公告)日： 2022-04-22
- 发明人: 大坂纯士 , 桥口彻
- 申请人： 日本航空电子工业株式会社
- 申请人地址： 日本东京都
- 专利权人： 日本航空电子工业株式会社
- 当前专利权人： 日本航空电子工业株式会社
- 当前专利权人地址： 日本东京都
- 代理机构： 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 韩锋
- 优先权： 2020-169210 20201006 JP
- 主分类号： G01R31/00
- IPC分类号： G01R31/00 ; G01R31/28
摘要：
电子元件检查器具(100)包含：基板(10)；棒状导体部件(30)，其具有用于与检查对象即电子元件(900)的导体(901)接触的一端(30a)。基板(10)的板面上的导体图案到达基板(10)的边缘(10h)，棒状导体部件(30)的另一端(30b)在基板(10)的边缘(10h)与导体图案电连接。棒状导体部件(30)的伸长方向与基板(10)的板面的法线方向正交。
