- 专利标题: 一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法
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申请号: CN202111616066.X申请日: 2021-12-27
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公开(公告)号: CN114346924B公开(公告)日: 2024-08-20
- 发明人: 钟耕杭 , 王新 , 边永智 , 宁永铎 , 徐继平 , 张健华 , 韩萍 , 林霖 , 田凤阁 , 李钧宏 , 颜俊尧 , 朱晓彤
- 申请人: 山东有研半导体材料有限公司 , 有研半导体硅材料股份公司
- 申请人地址: 山东省德州市经济技术开发区袁桥镇东方红东路6596号(中元科技创新创业园)A座921室;
- 专利权人: 山东有研半导体材料有限公司,有研半导体硅材料股份公司
- 当前专利权人: 山东有研半导体材料有限公司,有研半导体硅材料股份公司
- 当前专利权人地址: 山东省德州市经济技术开发区袁桥镇东方红东路6596号(中元科技创新创业园)A座921室;
- 代理机构: 北京北新智诚知识产权代理有限公司
- 代理商 刘秀青
- 主分类号: B24D18/00
- IPC分类号: B24D18/00 ; B24B1/00 ; B28D5/04 ; B28D5/00 ; H01L21/762
摘要:
本发明公开了一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法,包括以下步骤:(1)采用磁场拉晶法进行拉晶,磁场类型为水平磁场,磁场强度为1000‑5000高斯,磁场形状为马鞍形,晶转为5‑15rpm,埚转为0.1‑3rpm;控制晶体生长时液面位置+/‑0.5mm波动范围;(2)进行滚磨及线切割;(3)进行倒角轮廓设计与加工,进行四次倒角,分别使用800#导轮粗倒2次,1000‑3000#导轮精倒2次,使用非对称倒角,轮廓幅长X1大于600μm,X2小于300μm;(4)进行研磨腐蚀,先进行碱腐蚀,再进行酸腐蚀,碱腐蚀去除量控制在5‑15μm,酸腐蚀去除量控制在15‑20μm;(5)进行抛光,抛光转速控制在30‑50rpm,压力控制在300‑500kg,化学液浓度控制在1∶15‑1∶30,pH值控制在9‑13,蜡膜厚度控制在1‑3μm;(6)进行清洗检测;(7)进行边缘形状评估。
公开/授权文献
- CN114346924A 一种用于键合工艺的硅衬底抛光片的制备方法 公开/授权日:2022-04-15