Invention Grant
- Patent Title: 一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质
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Application No.: CN202111554732.1Application Date: 2021-12-17
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Publication No.: CN114264948BPublication Date: 2023-09-05
- Inventor: 赖耀康 , 唐毓 , 董海建 , 张鹭鹏 , 车向华
- Applicant: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
- Applicant Address: 北京市大兴区北京经济技术开发区凉水河一街2号院1号楼9层
- Assignee: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
- Current Assignee: 北京市科通电子继电器总厂有限公司
- Current Assignee Address: 北京市大兴区北京经济技术开发区凉水河一街2号院1号楼9层
- Agency: 北京维正专利代理有限公司
- Agent 谢明晖
- Main IPC: G01R31/327
- IPC: G01R31/327

Abstract:
本申请涉及一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质,涉及固体继电器性能分析的领域;该方法包括:获取待分析产品的要求工况、测试参数以及预估过负载值;基于要求工况以及所述测试参数,获取极限过负载曲线;将所述预估过负载值与所述极限过负载曲线进行比对,获取对比结果信息;对所述对比结果信息进行分析,确定所述预估过负载值是否高于所述极限过负载曲线;若高于,则表示在所述要求工况以及所述测试参数下,所述待分析产品在所述预估过负载值时无法处于正常工作状态。本申请提高产品过负载特性的测试效率。
Public/Granted literature
- CN114264948A 一种产品过负载特性分析方法、装置、电子设备及介质 Public/Granted day:2022-04-01
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