发明公开
- 专利标题: 用于存储器装置的行清除特征及相关联方法及系统
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申请号: CN202110988559.X申请日: 2021-08-26
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公开(公告)号: CN114121098A公开(公告)日: 2022-03-01
- 发明人: M·S·威斯康姆 , S·E·史密斯 , G·L·霍韦 , B·W·休伯 , T·M·布鲁尔
- 申请人: 美光科技公司
- 申请人地址: 美国爱达荷州
- 专利权人: 美光科技公司
- 当前专利权人: 美光科技公司
- 当前专利权人地址: 美国爱达荷州
- 代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- 代理商 彭晓文
- 优先权: 17/005,034 20200827 US
- 主分类号: G11C16/08
- IPC分类号: G11C16/08 ; G11C16/10
摘要:
本申请案涉及用于存储器装置的行清除特征及相关联方法及系统。在一些实施例中,所述存储器装置可从主机装置接收针对包含于所述存储器装置中的存储器阵列的行的命令。所述存储器装置可确定所述命令针对与所述行相关联的两个或多于两个列,其中每一列与一群组存储器胞元耦合。所述存储器装置可激活所述行以使用存储于所述存储器装置的寄存器中的一组预定数据写入所述两个或多于两个列。随后,所述存储器装置可基于将所述一组预定数据写入到所述两个或多于两个列来取消激活字线。