发明授权
- 专利标题： 一种射频芯片筛测方法
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申请号： CN202111126386.7申请日： 2021-09-26
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公开(公告)号： CN113945824B公开(公告)日： 2023-12-22
- 发明人: 吕继平 , 邬海峰 , 王测天 , 钟丹 , 廖学介 , 刘莹 , 李仁侠 , 陈长风 , 黄敏 , 童伟
- 申请人： 成都嘉纳海威科技有限责任公司
- 申请人地址： 四川省成都市双流区西南航空港经济开发区物联网产业园
- 专利权人： 成都嘉纳海威科技有限责任公司
- 当前专利权人： 成都嘉纳海威科技有限责任公司
- 当前专利权人地址： 四川省成都市双流区西南航空港经济开发区物联网产业园
- 代理机构： 北京正华智诚专利代理事务所
- 代理商 李林合
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28
摘要：
本发明公开了一种射频芯片筛测方法，该方法能够筛选出具有潜在缺陷的异常芯片，解决了现有射频芯片的缺陷检测方法不能将具有潜在缺陷的异常芯片完全筛选出来的技术问题。本发明可以显著遏制射频芯片量产测试的正常波动对于量产测试的干扰作用，有效拦截具有潜在缺陷的异常芯片，避免其成为合格品，从而提高射频芯片的良品率。本发明采用基于五点等步进高阶内差比较法的IV测试方法对射频芯片进行筛测，测试速度快，测试环境简单。
公开/授权文献
- CN113945824A 一种射频芯片筛测方法 公开/授权日：2022-01-18
