本发明公开一种半导体激光器芯片的辅助夹持装置及检测方法，所述半导体激光器芯片的辅助夹持装置包括安装座和夹持组件，所述安装座用于放置在显微镜观测平台上；所述夹持组件包括沿左右向活动安装至所述安装座的承载台，由上至下的方向上，所述承载台的上端面呈向左倾斜设置，用于供待检测的半导体激光器芯片倾斜放置，所述承载台的上端面上设有沿左右向间隔设置的两个夹持板，两个所述夹持板之间的距离可调，两个所述夹持板用于夹持待检测的半导体激光器芯片。移动所述承载台，使得需要进行外观检测的部位位于显微镜镜头的正下方，从而便于检测人员进行观测检查，该辅助夹持装置稳定性好，适用于不同尺寸的半导体激光器芯片，芯片不易损坏。